如果位移臺(tái)運(yùn)行偏慢或卡頓應(yīng)如何處理？
納米位移臺(tái)運(yùn)行偏慢或出現(xiàn)卡頓現(xiàn)象，通常是由于機(jī)械、電氣或控制系統(tǒng)某一環(huán)節(jié)出了問題。以下是詳細(xì)的排查思路與處理建議：
常見原因與對(duì)應(yīng)處理
1. 導(dǎo)軌或滑塊存在污染或磨損
表現(xiàn)：運(yùn)行不順暢，感覺有“卡點(diǎn)”。
原因：灰塵、顆粒物、潤(rùn)滑不足或?qū)к壚匣?處理：
清潔導(dǎo)軌、滑塊；
潤(rùn)滑移動(dòng)部件；
若劃傷嚴(yán)重，聯(lián)系廠家更...
納米位移臺(tái)移動(dòng)時(shí)出現(xiàn)異響怎么辦？
當(dāng)納米位移臺(tái)移動(dòng)時(shí)出現(xiàn)異響，可能由機(jī)械摩擦、部件松動(dòng)或驅(qū)動(dòng)系統(tǒng)異常引起。以下是系統(tǒng)性排查與解決方案：
1. 快速定位異響來源
聽音辨位：
高頻尖銳聲：可能來自導(dǎo)軌/軸承缺油或污染。
低頻沉悶聲：驅(qū)動(dòng)電機(jī)過載或傳動(dòng)部件（如絲杠）磨損。
規(guī)律性咔嗒聲：電纜纏繞或限位開關(guān)誤觸發(fā)。
觸覺輔助：輕觸位移臺(tái)外殼，感受...
納米位移臺(tái)如何避免樣品安裝時(shí)的應(yīng)力影響？
在納米位移臺(tái)操作中，樣品安裝時(shí)的應(yīng)力會(huì)顯著影響測(cè)量精度和樣品完整性。以下是避免應(yīng)力影響的關(guān)鍵方法，以清晰條目式呈現(xiàn)：
一、樣品預(yù)處理
表面平整化
對(duì)剛性樣品（如硅片）進(jìn)行機(jī)械或化學(xué)拋光，確保安裝面粗糙度＜1μm。
柔性樣品（如薄膜）可貼合在預(yù)拉伸的彈性基底上，釋放后自然展平。
尺寸適配
樣品尺寸需略小于載...
使用中如何判斷納米位移臺(tái)是否出現(xiàn)誤差？
判斷納米位移臺(tái)是否出現(xiàn)誤差，需要從系統(tǒng)反饋、運(yùn)動(dòng)表現(xiàn)和測(cè)量結(jié)果等多個(gè)維度綜合分析。以下是常用的判斷方法和依據(jù)：
一、從控制系統(tǒng)或反饋信號(hào)判斷
閉環(huán)控制反饋值與設(shè)定值不一致
如果位移臺(tái)為閉環(huán)控制（如帶有光柵尺或電容傳感器），應(yīng)實(shí)時(shí)檢查反饋值是否與設(shè)定值一致。
偏差大、反復(fù)出現(xiàn)或難以收斂，可能存在誤差或...
納米位移臺(tái)的“零位”如何設(shè)置？
納米位移臺(tái)的“零位”設(shè)置，是指確定平臺(tái)的參考原點(diǎn)，為后續(xù)精確定位和重復(fù)運(yùn)動(dòng)提供統(tǒng)一的起點(diǎn)。不同控制系統(tǒng)和傳感器配置會(huì)略有差異，但基本原則大致如下：
一、常見“零位”設(shè)置方法
1. 機(jī)械限位初始化法（適用于帶限位開關(guān)的系統(tǒng)）
平臺(tái)啟動(dòng)后先運(yùn)動(dòng)至某一端的機(jī)械限位（通常是最小端），以此點(diǎn)為參考原點(diǎn)。
控制器將該點(diǎn)...
納米位移臺(tái)如何優(yōu)化掃描路徑以減少振動(dòng)？
在使用納米位移臺(tái)進(jìn)行掃描時(shí)，優(yōu)化掃描路徑是減少系統(tǒng)振動(dòng)、提升定位精度和圖像質(zhì)量的關(guān)鍵步驟。以下是幾種常用且有效的優(yōu)化路徑設(shè)計(jì)方法：
首先，避免使用帶有急劇加速度變化的波形，例如傳統(tǒng)鋸齒波或方波路徑，這類軌跡在方向切換處會(huì)造成系統(tǒng)沖擊，引起激發(fā)共振和機(jī)械抖動(dòng)。建議改為采用平滑的軌跡設(shè)計(jì)，例如正弦波、...