納米位移臺是一種用于準確控制位置和運動的設備，通常用于實驗室應用、原子力顯微鏡、掃描探針顯微鏡以及其他需要高精度定位和掃描的場合。下面是一些常見的納米位移臺的掃描模式和軌跡控制方式：
步進掃描：這是基本的掃描模式之一，納米位移臺以微小的步進距離逐點掃描目標區(qū)域。每個步進點都會記錄所需的數據或執(zhí)行特定操作。步進掃描適用于需要非常高的空間分辨率的應用，但可能需要更長的時間。
連續(xù)掃描：連續(xù)掃描是在納米位移臺上應用恒定的速度來掃描樣品表面。這通常用于快速獲取大范圍的表面拓撲信息。連續(xù)掃描是比步進掃描快速，但犧牲了空間分辨率。
螺旋掃描：在螺旋掃描中，納米位移臺以螺旋形狀掃描目標區(qū)域。這種方式通常用于快速獲取全貌圖像，同時保持較高的分辨率。
自由形式掃描：有些納米位移臺可以執(zhí)行自由形式掃描，允許用戶根據需要繪制自定義軌跡。這在特殊形狀的樣品分析和操作中非常有用。
階躍掃描：在階躍掃描中，納米位移臺會在垂直或水平方向上執(zhí)行階躍運動，以獲取樣品表面的特定信息。
雙通道掃描：一些納米位移臺具有雙通道掃描功能，可以同時在水平和垂直方向上執(zhí)行掃描，以提升效率和速度。
掃描模式的選擇通常取決于具體應用的要求。用戶可以根據實驗需求和樣品性質來選擇適當的掃描模式和軌跡控制方式，以獲得所需的數據和結果。這些掃描模式和軌跡控制方式可以通過控制軟件或者設備的用戶界面進行設置和調整。
以上就是卓聚科技小編分享的納米位移臺的掃描模式和軌跡控制。更多位移臺產品及價格請咨詢15756003283(微信同號)。